濕法化學(xué)刻蝕技術(shù)處理拋光熔石英元件
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【部分圖文】:
圖1激光損傷測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖
利用三倍頻(3ω)Nd∶YAG激光損傷測(cè)試系統(tǒng)的R∶1和1∶1測(cè)試方式評(píng)價(jià)熔石英元件的激光損傷性能。損傷測(cè)試系統(tǒng)如圖1所示,入射激光為脈寬10ns,頻率1Hz,束腰直徑約380μm的紫外高斯光束,且光束垂直照射于元件后表面。該損傷測(cè)試系統(tǒng)配備了能量計(jì)用于檢測(cè)實(shí)時(shí)激光能量密度....
圖2不同溶液的刻蝕速率
在靜態(tài)刻蝕與兆聲刻蝕過程中,使用耐腐蝕的熱傳感器檢測(cè)刻蝕溶液的實(shí)時(shí)溫度,結(jié)果表明,刻蝕溶液溫度始終恒定于(32±2.5)℃。同時(shí),使用電位滴定儀對(duì)刻蝕液的成分與濃度進(jìn)行精確標(biāo)定,測(cè)試結(jié)果表明HF濃度在刻蝕過程中的變化極其微弱。實(shí)驗(yàn)測(cè)得刻蝕反應(yīng)前E組溶液(12%HF+10%NH4F....
圖3刻蝕元件表面狀況
熔石英元件在5種溶液內(nèi)刻蝕一定的深度后,在強(qiáng)光照射下將呈現(xiàn)不同的表面潔凈度。圖3為元件C2,C4(經(jīng)6%HF+10%NH4F分別刻蝕4.5μm,22.7μm深度)及E4(經(jīng)12%HF+10%NH4F刻蝕22.9μm深度)的表面狀況。元件C2和C4局部表面均覆蓋著一定....
圖4沉積物比例與刻蝕深度的關(guān)系曲線
圖3刻蝕元件表面狀況使用圖像處理軟件ImageJ評(píng)估刻蝕元件表面覆蓋的沉積物比例,部分結(jié)果如圖4所示。C組元件經(jīng)6%HF+10%NH4F溶液刻蝕后,表面沉積物比例隨刻蝕深度的增加而顯著提高。淺刻蝕0.8μm的C1元件表面無明顯沉積物,隨著刻蝕的繼續(xù),在刻蝕深度分別為4.5....
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