大口徑光學(xué)元件損傷高信噪比檢測技術(shù)研究
【學(xué)位單位】:哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位年份】:2017
【中圖分類】:TP391.41;TL632
【部分圖文】:
部分都是像石油、煤炭這樣的非再生能源,對環(huán)境的污染比較嚴(yán)重。人們越來越希望使在可控的核能源都是核裂變能量,即使核裂核子所釋放的能量僅僅相當(dāng)于核聚變中每個望對核聚變實現(xiàn)人工可控。經(jīng)過研究表明,變 (Inertial confinement Fusion, ICF)和磁ent Fusion, MCF)[1]。上世紀(jì) 60 年代,激光束核聚變技術(shù)從而被提出。為了創(chuàng)造核聚變體的 100μm 薄殼球型的靶丸放置在系統(tǒng)靶實施均勻照射,使其表面的溫度迅速增高,產(chǎn)生反沖壓力從而產(chǎn)生核聚變所需要的高溫力達(dá)到一定的程度時,靶丸中的氘、氚氣體能激光對靶丸進(jìn)行均勻照射過程就需要大行傳輸,終端光學(xué)元件對激光光束的引導(dǎo)示
出光、入光表面光學(xué)元件損傷隨打靶次數(shù)增長曲F 系統(tǒng)中,每次打靶都會使用 432 塊終端光激光都極可能對光學(xué)元件造成損傷,所以必行檢測,準(zhǔn)確的識別出光學(xué)元件表面中的所時地進(jìn)行修復(fù)或者更換。所以大口徑光學(xué)元的成功率,保證了終端光學(xué)元件以及整個靶靶的費(fèi)用。本論文在前人研究的基礎(chǔ)上,改光學(xué)元件損傷點的成像特性,并提高了在線大口徑光學(xué)元件損傷檢測技術(shù)研究在科學(xué)研義。現(xiàn)狀現(xiàn)狀
圖 1-3 NIF 中的 LODI 光路圖2007 年,終端光學(xué)元件在線檢測系統(tǒng)在 LLNL 實驗室搭建成功,該控制軟件系統(tǒng)、成像定位系統(tǒng)、望遠(yuǎn)成像系統(tǒng)和損傷檢測分析軟件,系統(tǒng)示意圖如圖 1-4 所示[9][10]。望遠(yuǎn)成像系統(tǒng)是放置在 ICF 系統(tǒng)的光學(xué)望遠(yuǎn)鏡,每次打靶完成后望遠(yuǎn)成像系統(tǒng)通過定位系統(tǒng)的準(zhǔn)確集終端光學(xué)元件的損傷圖像;最終利用光學(xué)分析軟件對損傷圖像進(jìn)析,并對光學(xué)元件的損傷狀況進(jìn)行評估。由于該系統(tǒng)是在線檢測系只能檢測直徑大于 100μm 以上的損傷。
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號:2881705
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