發(fā)布時(shí)間：2024-05-22 04:19

　　本論文主要介紹了 EAST上微波成像反射計(jì)(Microwave Imaging Reflectom-etry,MIR)的工作原理,前端光學(xué)系統(tǒng)成像性能的模擬,以及臺面實(shí)驗(yàn)的測試結(jié)果。微波成像反射計(jì)是一種將反射計(jì)和大口徑成像光線結(jié)合起來以實(shí)現(xiàn)對托卡馬克等離子體小截面上二維區(qū)域內(nèi)的密度漲落的測量的一種診斷技術(shù)。為了深入地了解EAST MIR各個(gè)子系統(tǒng)的工作原理,并在EAST MIR系統(tǒng)正式投入實(shí)際實(shí)驗(yàn)之前對其工作性能以及可能會遇到的問題進(jìn)行全面的了解,我們需要通過臺面測試實(shí)驗(yàn)對MIR系統(tǒng)在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下的工作性能進(jìn)行測試。EAST上微波成像反射計(jì)的臺面測試主要包括兩部分內(nèi)容。第一部分內(nèi)容主要是通過高斯光學(xué)模擬軟件CodeV對前端光學(xué)系統(tǒng)工作性能進(jìn)行模擬。為了能靈活的調(diào)節(jié)微波成像反射計(jì)的觀測范圍,EAST MIR的前端光學(xué)系統(tǒng)需要具有聚焦位置和極向觀測位置的主動調(diào)節(jié)能力。此外,由于微波成像反射計(jì)的工作特點(diǎn)要求像面場曲和截止層的形狀相匹配,因此EAST MIR的前端光學(xué)系統(tǒng)還需要具有場曲的調(diào)節(jié)特性。因此,我們通過CodeV軟件對前端光學(xué)系統(tǒng)的工作性能進(jìn)行了模擬,模擬結(jié)果表明EAST MIR的前端...

【文章頁數(shù)】：144 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖１．１?一維反射計(jì)原理圖??

?第１章微波成像反射計(jì)診斷簡介???第１章微波成像反射計(jì)珍斷簡介??１．１微誠像反射計(jì)診斷概述??反射計(jì)診斷是一種在托卡馬克聚變裝置中廣泛使用的一種密度診斷方法，它??利用的是等離子體對電磁波的截止特性。如圖１．１所示，當(dāng)一束電磁波頻率為／的??電磁波在等離子體中傳播時(shí)，若當(dāng)?shù)氐?...

圖１．２傳統(tǒng)反射計(jì)（左）忽略了截止層極向方向的漲落信息和由于截止層極向漲落所帶來??的反射（右）??

?第１章微波成像反射計(jì)診斷簡介???點(diǎn)的位置隨時(shí)間的變化，即只能測量截止層在一個(gè)維度（通常為徑向）上的漲落??信息。然而如圖１．２所示，實(shí)際情況中的截止層是一個(gè)曲面，而且在截止層曲面??上有不同維度、不同尺度的漲落，故入射的電磁波的波前會在截止層表面被反??射，如圖１．３所示。若....

圖１．３具有漲落的截止層的反射信號電場強(qiáng)度分布的模擬結(jié)果??

?第１章微波成像反射計(jì)診斷簡介???〇．〇：??－０＊３藝於?亦知二：，■??圖１．３具有漲落的截止層的反射信號電場強(qiáng)度分布的模擬結(jié)果??＾?＝?ｋ〇?［?Ｃ?ｅ－＾ｌｄｒ?（１．４）??７〇?Ｖ＾Ｏ??Ｕ２Ｔ??Ｔ？（ｋｒ）?＝?ｎＭ－＾Ｔｎ（ｋｒ）?（１．５）??上式中，Ｌ？....

圖１．４微波成像反射計(jì)光學(xué)系統(tǒng)的照明光路和接收光路示意圖??２？接收光路??

）照明光路示意圖??Ｄｅｔｅｃｔｏｒ?？?？??．?．一ｚ?Ｚ：—．？—?、？！??ｌ．?—?ｉ二—？——?一?三－．一：―；一二—心―—－＜ｒｒｒｒｒ￣Ｔ４????匚ｕｔｏｆｆｌａｙｅｒ?？??一一一?—Ｉｍａｇｅ?ｐｌａｎｅ?????１?ｊ????＞?Ｖｅｒｔｉｃａｌ?ｄｉｒ....

本文編號：3980386