發(fā)布時(shí)間：2024-06-08 06:35

　　利用X射線(xiàn)高穿透性的探測(cè)方式能夠?qū)Σ牧蟽?nèi)部進(jìn)行成像,因此X射線(xiàn)探測(cè)在安防安檢、工業(yè)探傷和醫(yī)療診斷等眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。使用直接探測(cè)成像的數(shù)字化平板探測(cè)器已經(jīng)成為實(shí)現(xiàn)高空間分辨率X射線(xiàn)成像的首選技術(shù)手段。以MAPbX₃(MA=CH₃NH₃,X=Cl,Br,I)為代表的鹵素鈣鈦礦具有比商用非晶硒(α-Se)平板探測(cè)器更好的穩(wěn)定性、更高的靈敏度以及易低成本制備大面積器件等優(yōu)勢(shì),極有希望代替α-Se成為下一代X射線(xiàn)直接探測(cè)材料。數(shù)字化探測(cè)的必要條件是對(duì)探測(cè)器所得信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,以實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)識(shí)別。由于探測(cè)器對(duì)X射線(xiàn)的響應(yīng)十分微弱(典型值為百皮安量級(jí)),因此在進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換之前,應(yīng)使用前置放大電路來(lái)放大探測(cè)器的輸出信號(hào),以確保放大之后的信號(hào)在隨后的傳輸過(guò)程中不會(huì)被噪聲淹沒(méi),同時(shí)也滿(mǎn)足模數(shù)轉(zhuǎn)換對(duì)數(shù)據(jù)幅值大小的要求(典型值為毫伏量級(jí))。本文對(duì)鈣鈦礦X射線(xiàn)探測(cè)器的前置放大電路進(jìn)行研究,完成前置放大電路設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)對(duì)鈣鈦礦X射線(xiàn)探測(cè)器輸出信號(hào)的放大,使得探測(cè)所得電信號(hào)易于被后端電路接收并進(jìn)行下一步數(shù)據(jù)處理。本文從X射線(xiàn)探測(cè)的基礎(chǔ)理論出發(fā),...

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【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖1-1X射線(xiàn)發(fā)生器示意圖

圖1-1X射線(xiàn)發(fā)生器示意圖波長(zhǎng)范圍在0.001~10nm之間電磁波力學(xué)理論，單個(gè)X光子的能量可由E=hv，數(shù)值為6.62610-34Js，v為光子能量和其自身頻率成正比，而頻率和一般意味著越短的波長(zhǎng)。由于X射線(xiàn)能呈正相關(guān)的關(guān)系，而電子撞擊靶材....

圖1-2電磁波譜示意圖

圖1-2電磁波譜示意圖X射線(xiàn)的特性主要有以下三個(gè)方面[1]：（1）物理特性。X射線(xiàn)擁有對(duì)物體極強(qiáng)的穿透力，而且由于部分X射線(xiàn)在穿透物體的過(guò)程中會(huì)被吸收，因而使X射線(xiàn)產(chǎn)生衰減。類(lèi)似于可見(jiàn)光，作為一種電磁波的X射線(xiàn)同樣具有反射、衍射和干涉等光學(xué)特性現(xiàn)象。（2）化學(xué)特....

圖1-3X射線(xiàn)圖像板（IP板）成像系統(tǒng)（引用自文獻(xiàn)[20]

圖1-3X射線(xiàn)圖像板（IP板）成像系統(tǒng)（引用自文獻(xiàn)[20]）相比增強(qiáng)屏而言，圖像板對(duì)X射線(xiàn)的吸收機(jī)理與其相似，不同之處在于圖像板實(shí)現(xiàn)了探測(cè)信號(hào)的數(shù)字化輸出，在成像性能方面，具有更大的動(dòng)態(tài)范圍、更低的檢測(cè)極限。然而，先潛影再顯影的工作模式?jīng)Q定了圖像板系統(tǒng)不能進(jìn)行實(shí)時(shí)成像....

圖1-4數(shù)字化X射線(xiàn)探測(cè)系統(tǒng)示意圖

像中，閃爍體的熒光信號(hào)會(huì)互相干擾，降低成像的空間分辨率于偏置電壓的作用，電荷信號(hào)在傳輸過(guò)程中的擴(kuò)散很小，因而高的空間分辨率。然而，α-Se也存在著十分明顯的本質(zhì)缺點(diǎn)：由于較小的原子序數(shù)（34）而變得很弱；靈敏度低（<300μCG500nGy/s）；所需的偏置電場(chǎng)很大（10....

本文編號(hào)：3991603