基于直流電位降法的裂紋監(jiān)測(cè)儀器系統(tǒng)設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間:2024-07-07 09:41
在模擬核電高溫環(huán)境的高壓釜中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裂紋擴(kuò)展速率的手段相對(duì)較少,設(shè)計(jì)了一種基于直流電位降(DCPD)法的裂紋監(jiān)測(cè)系統(tǒng),旨在實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確、平穩(wěn)地監(jiān)測(cè)裂紋生長(zhǎng)情況。以STM32系列為主控制器,結(jié)合微弱信號(hào)放大與抗干擾技術(shù),將裂紋增長(zhǎng)的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)并在Lab Windows/CVI軟件界面上顯示。該系統(tǒng)已應(yīng)用于裂紋監(jiān)測(cè)儀器,并在高壓釜環(huán)境中進(jìn)行了裂紋監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn),結(jié)果表明所設(shè)計(jì)的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)具有較高的精度和可靠性。
【文章頁(yè)數(shù)】:4 頁(yè)
【文章目錄】:
0 引言
1 監(jiān)測(cè)系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)
2 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)
2.1 主控單元設(shè)計(jì)
2.2 通信單元的硬件設(shè)計(jì)
2.3 數(shù)據(jù)采集單元的硬件設(shè)計(jì)
2.4 電流換向單元的硬件設(shè)計(jì)
2.5 溫度控制單元的硬件設(shè)計(jì)
3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
3.1 上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)
3.2 用戶界面的設(shè)計(jì)
4 系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)測(cè)試
5 結(jié)束語(yǔ)
本文編號(hào):4003517
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0 引言
1 監(jiān)測(cè)系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)
2 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)
2.1 主控單元設(shè)計(jì)
2.2 通信單元的硬件設(shè)計(jì)
2.3 數(shù)據(jù)采集單元的硬件設(shè)計(jì)
2.4 電流換向單元的硬件設(shè)計(jì)
2.5 溫度控制單元的硬件設(shè)計(jì)
3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
3.1 上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)
3.2 用戶界面的設(shè)計(jì)
4 系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)測(cè)試
5 結(jié)束語(yǔ)
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