發(fā)布時(shí)間：2021-01-10 06:46

　　介紹一套基于單片機(jī)STM32F103的多通道光測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案及實(shí)現(xiàn)電路。系統(tǒng)能快速對(duì)光偏振相關(guān)損耗（PDL）、光插入損耗（IL）、光回波損耗（RL）進(jìn)行測(cè)試,并輸出1270、1310、1490、1550、1625 nm五個(gè)波長(zhǎng)的光源,通過(guò)以太網(wǎng)連接電腦界面軟件實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)測(cè)試。各項(xiàng)測(cè)試的數(shù)據(jù)形成報(bào)表供打印或儲(chǔ)存。 

【文章來(lái)源】：廣東通信技術(shù). 2020,40(09)

【文章頁(yè)數(shù)】：5 頁(yè)

【部分圖文】：

邦加球上偏振態(tài)的Stokes矢量表圖

界面軟件由VC編寫(xiě),界面友好,操作易懂,能同時(shí)進(jìn)行多通道光功率、回波損耗、偏振采集測(cè)試。界面軟件測(cè)試結(jié)束后,將自動(dòng)儲(chǔ)存測(cè)試設(shè)備的型號(hào)及編號(hào)、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試數(shù)據(jù)等信息。測(cè)試過(guò)程中隨時(shí)通過(guò)點(diǎn)擊數(shù)據(jù)管理按鍵進(jìn)行數(shù)據(jù)查看及打印輸出,數(shù)據(jù)管理圖如圖8所示。4 技術(shù)指標(biāo)

多通道光測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)STM32F103微處理器管理與控制著偏振控制模塊、光功率采集模塊、光回波損耗測(cè)試模塊、多通道光源模塊、以太網(wǎng)接口及界面軟件,每個(gè)模塊都具有相應(yīng)的功能,系統(tǒng)組成框圖如圖1所示。2.1 STM32F103微處理器

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]光回波損耗(后向反射)測(cè)試儀的校準(zhǔn)[J]. 詹志強(qiáng),夏銘,高建強(qiáng),孫聞.  電子測(cè)量技術(shù). 2008(09)
[2]偏振控制器的研究進(jìn)展[J]. 趙娜,李小妍,劉繼紅.  西安郵電學(xué)院學(xué)報(bào). 2008(03)
[3]基于ATmega128的無(wú)線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)[J]. 姜虎強(qiáng),姜平,杜亞江,楊成慧.  微計(jì)算機(jī)信息. 2007(26)



本文編號(hào)：2968257