發(fā)布時(shí)間：2021-01-12 09:32

　　介質(zhì)材料作為電磁波傳播的重要媒質(zhì),其微波性能是表征微波傳輸特性的核心指標(biāo)。介質(zhì)材料微波性能及其均勻性作為材料合格性評(píng)估的一項(xiàng)重要指標(biāo),若其測(cè)試不準(zhǔn)確或未知,將對(duì)器件、系統(tǒng)及整機(jī)性能發(fā)揮造成極大影響,甚至無(wú)法正常工作。介質(zhì)材料微波性能的兩大核心表征參數(shù)是介電常數(shù)和介電損耗,屬于材料的本征參數(shù)�，F(xiàn)有介電參數(shù)均勻性分布測(cè)試方法及系統(tǒng),最小測(cè)試間距受限于測(cè)試夾具的結(jié)構(gòu)尺寸,導(dǎo)致無(wú)法獲得更小距離分辨的均勻性分布性能。對(duì)于高衰減或涂覆衰減層的介質(zhì)材料,在現(xiàn)有衰減量測(cè)試方法及系統(tǒng)中,測(cè)試間距分辨率不高以及電場(chǎng)環(huán)境的模擬不準(zhǔn)確,導(dǎo)致衰減量測(cè)試偏差大的問(wèn)題仍然存在。針對(duì)上述問(wèn)題,本文從理論研究、測(cè)試建模和系統(tǒng)研制三大方面,開(kāi)展介質(zhì)材料微波性能及其均勻性分布測(cè)試研究,主要針對(duì)介質(zhì)材料的復(fù)介電常數(shù)和衰減量三項(xiàng)微波性能參數(shù)進(jìn)行均勻性分布測(cè)試研究。在分析研究已有測(cè)試方法及系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,針對(duì)復(fù)介電常數(shù)分布測(cè)試,提出基于微擾法的相鄰樣品段比對(duì)測(cè)試模型和樣品分段模式匹配測(cè)試模型,解決了樣品部分填充時(shí)的介電測(cè)試問(wèn)題,有效提高測(cè)試間距分辨率,另外基于模式匹配場(chǎng)分析對(duì)樣品偏心測(cè)試模型進(jìn)行完善。研制了多腔體級(jí)聯(lián)的介電分布測(cè)試... 

【文章來(lái)源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：161 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：博士

【部分圖文】：

平行板電容法測(cè)試模型[2]

諧振等效電路[26]。

在非諧振法中[27-28],材料的微波性能主要是由傳輸線(xiàn)的阻抗、材料中波速以及網(wǎng)絡(luò)參數(shù)等推導(dǎo)得到,可用于寬頻率范圍內(nèi)材料的電磁參數(shù)測(cè)試。如圖1-3所示[28],當(dāng)電磁波從一種材料傳播至另外一種材料(通常是從空氣到待測(cè)材料)中,波阻抗和波速的變化將引起部分電磁波在兩種材料界面間反射。測(cè)試界面處電磁波的反射和傳輸可以得到材料的介電參數(shù)和磁導(dǎo)率的關(guān)系。非諧振法主要包括反射法和傳輸/反射法,其中反射法包括開(kāi)路、短路和表面阻抗測(cè)量反射法。在反射法中,待測(cè)材料放置在傳輸線(xiàn)的終端,通常為開(kāi)路端或短路端,通過(guò)樣品的反射系數(shù)計(jì)算得到材料的微波性能;在傳輸/反射法中,待測(cè)材料填充在電磁波傳播路徑的一段區(qū)域中,材料的微波性能通常是從樣品的傳輸和反射系數(shù)計(jì)算得出。原理上講,所有類(lèi)型的傳輸線(xiàn)都可以用作為介質(zhì)材料測(cè)試夾具,如同軸線(xiàn)、空心金屬波導(dǎo)(矩形波導(dǎo)、圓波導(dǎo)等)、平面?zhèn)鬏斁�(xiàn)以及自由空間等。下面以測(cè)試精度較高的同軸線(xiàn)傳輸反射法為例,介紹其測(cè)試原理,其他測(cè)試方法的基本理論與同軸線(xiàn)類(lèi)似,不作進(jìn)一步介紹。同軸傳輸線(xiàn)的特征阻抗Z0可表示為:

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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博士論文
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碩士論文
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