發(fā)布時間：2024-06-03 05:07

　　超輻射發(fā)光二極管(SLD)作為一個重要的特殊光源,針對SLD可靠度和壽命的預測精度要求高的問題,提出了基于圖形法的SLD性能退化可靠性評估方法。首先采用加速應力的方式獲得SLD的短時間內(nèi)的無失效數(shù)據(jù);其次根據(jù)退化軌跡采用最小二乘法進行擬合得到適合于退化軌跡的曲線方程,并根據(jù)失效閾值計算出超輻射發(fā)光二極管的偽失效壽命;最后采用Minitab對偽失效壽命進行個體分布標識,選用接受度高的對數(shù)正態(tài)分布,得出常溫下失效前的平均工作時間。實驗結(jié)果表明,該方法可以精準預測SLD的可靠度和壽命,相對于其他方法其精度提高了9.09%。

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【部分圖文】：

圖114腳蝶形SLD

超輻射發(fā)光二極管由管芯、熱敏電阻、熱沉、半導體制冷器(TEC)、尾纖和外部殼體組成[7],如圖1所示。其中管芯是SLD的重要部分,其壽命主要決定整個管子的壽命。熱敏電阻主要用來時刻檢測管芯的溫度變化并反饋給半導體制冷器。半導體制冷器主要是使管芯的溫度處于正常工作范圍,以延長其工作....

圖2SLD退化增量軌跡

SLD在常溫下光功率的退化是比較緩慢的,如果在常溫下進行實驗時間會非常長,這樣不僅難以得出實驗結(jié)果,實驗的成本也會很高。因此選取8個同一批次的SLD實驗樣品在高溫度的環(huán)境應力下進行壽命加速退化實驗。給每個管子通以相同的驅(qū)動電流(100mA),熱敏電阻正常工作,半導體制冷器不通電....

圖3SLD光功率退化增量擬合曲線

根據(jù)所得的參數(shù)繪制擬合后的超輻射發(fā)光二極管光功率退化軌跡擬合,如圖3所示。實驗數(shù)據(jù)表明SLD光功率退化是不斷增加的,且退化速率是不斷加快的,并不是線性的。圖3擬合后的SLD光功率退化增量是可以用函數(shù)進行表示并且與原始退化量退化趨勢一致,在進行SLD偽失效壽命預估的時候可以減少誤差....

圖4SLD偽失效壽命擬合優(yōu)度檢驗

SLD偽失效壽命擬合優(yōu)度檢驗數(shù)值,如表3所示。表3SLD偽失效壽命擬合優(yōu)度檢驗表Table3SLDpseudo-lifetimegoodness-of-fittesttable分布ADP正態(tài)分布0.3460.382指數(shù)分布2.2490.003We....

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