發(fā)布時(shí)間：2018-12-15 18:58

【摘要】：在介紹CCD工作原理基礎(chǔ)上分析了CCD響應(yīng)率的定義以及測(cè)試方法,設(shè)計(jì)制作了小光點(diǎn)線列CCD響應(yīng)率的測(cè)試系統(tǒng),給出了測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)造及測(cè)試過程,選擇2 856K標(biāo)準(zhǔn)光源并恒定照度,通過改變CCD的積分時(shí)間改變CCD的曝光量,從而改變CCD的輸出信號(hào),從CCD響應(yīng)曲線的線性區(qū)可以擬合出CCD的響應(yīng)率。測(cè)試結(jié)果表明該系統(tǒng)能夠完成CCD響應(yīng)率的測(cè)試且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。
[Abstract]:On the basis of introducing the working principle of CCD, the definition and testing method of CCD responsivity are analyzed, the test system of CCD response rate of small light spot line is designed and made, and the construction and testing process of the test system are given. By changing the integral time of CCD and changing the exposure of CCD, thus changing the output signal of CCD, the response rate of CCD can be fitted from the linear region of the CCD response curve by selecting 2856K standard light source and constant illuminance. The test results show that the system can complete the CCD responsivity test and the structure is simple.
【作者單位】： 電子科技大學(xué)光電信息學(xué)院;
【基金】：電子科技大學(xué)本科教學(xué)改革研究項(xiàng)目(Y02012023701215,Y02012023701167)
【分類號(hào)】：TN386.5

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本文編號(hào)：2381133